基质辅助激光解析飞行时间质谱仪
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厂 商：布鲁克·道尔顿公司 型 号：Autoflex II 购置日期：2009-03-17 放置地点：化学楼A106 管 理 员：蒋雨霏 技术指标： 质量范围：≥ 500,000Da；分辨率：≥ 20,000 扫描方式：线性模式和反射模式 功能特点： 高灵敏度的快速微通道检测器，具有减少基质干扰信号的功能；无网格离子反射器提高了质量分辨率和准确度；通过专利的LIFT系统对离子进行二次加速，一次扫描就可采集完整的串联质谱图。 |
