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基质辅助激光解析飞行时间质谱仪

仪器名称:基质辅助激光解析飞行时间质谱仪 

厂    商:Bruker Daltonics

型    号:UltrafleXtreme

购置日期:2017-03-31

放置地点:化学楼A106

    员:蒋雨霏

技术指标:

质量范围:≥ 500,000Da;分辨率:≥ 40,000

扫描方式:线性模式和反射模式

功能特点:

高灵敏度的快速微通道检测器,具有减少基质干扰信号的功能;无网格离子反射器提高了质量分辨率和准确度;通过专利的LIFT系统对离子进行二次加速,一次扫描就可采集完整的串联质谱图。