基质辅助激光解析飞行时间质谱仪

仪器名称：基质辅助激光解析飞行时间质谱仪 

厂    商：Bruker Daltonics

型    号：UltrafleXtreme

购置日期：2017-03-31

放置地点：化学楼A106

管  理  员：蒋雨霏

技术指标：

质量范围：≥ 500,000Da；分辨率：≥ 40,000

扫描方式：线性模式和反射模式

功能特点：

高灵敏度的快速微通道检测器，具有减少基质干扰信号的功能；无网格离子反射器提高了质量分辨率和准确度；通过专利的LIFT系统对离子进行二次加速，一次扫描就可采集完整的串联质谱图。